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基于VHDL语言设计数字频率计(1)

北极星电力网技术频道    作者:谢煜 黄为   2003/8/1 0:00:00   

 关键词:  EDA VHDL 数字频率计

  摘要:文中运用VHDL语言,采用TopToDown的方法,实现8位数字频率计,并利用IspExpert集成开发环境进行编辑、综合、波形仿真,并下载到CPLD器件中,经实际电路测试,该系统系统性能可靠。
  关键词:EDA;VHDL;数字频率计;波形仿真;CPLD
  
  1 引言
  VHDL(VeryHighSpeedIntegratedCircuitHardwareDescriptionLanguage,超高速集成电路硬件描述语言)诞生于1982年,是由美国国防部开发的一种快速设计电路的工具,目前已经成为IEEE(TheInstituteofElectricalandElectronicsEngineers)的一种工业标准硬件描述语言。相比传统的电路系统的设计方法,VHDL具有多层次描述系统硬件功能的能力,支持自顶向下(ToptoDown)和基于库(LibraryBased)的设计的特点,因此设计者可以不必了解硬件结构。从系统设计入手,在顶层进行系统方框图的划分和结构设计,在方框图一级用VHDL对电路的行为进行描述,并进行仿真和纠错,然后在系统一级进行验证,最后再用逻辑综合优化工具生成具体的门级逻辑电路的网表,下载到具体的CPLD器件中去,从而实现可编程的专用集成电路(ASIC)的设计。
  数字频率计是数字电路中的一个典型应用,实际的硬件设计用到的器件较多,连线比较复杂,而且会产生比较大的延时,造成测量误差、可靠性差。随着复杂可编程逻辑器件(CPLD)的广泛应用,以EDA工具作为开发手段,运用VHDL语言。将使整个系统大大简化。提高整体的性能和可靠性。
  本文用VHDL在CPLD器件上实现一种8b数字频率计测频系统,能够用十进制数码显示被测信号的频率,不仅能够测量正弦波、方波和三角波等信号的频率,而且还能对其他多种物理量进行测量。具有体积小、可靠性高、功耗低的特点。
  2 数字频率计的基本设计原理
  数字频率计的原理框图如图1所示。他主要由5个模块组成,分别是:脉冲发生器电路、测频控制信号发生器电路、计数模块电路、锁存器、译码驱动电路。
  
  
  当系统正常工作时,脉冲发生器提供的1Hz的输入信号,经过测频控制信号发生器进行信号的变换,产生计数信号,被测信号通过信号整形电路产生同频率的矩形波,送入计数模块,计数模块对输入的矩形波进行计数,将计数结果送入锁存器中,保证系统可以稳定显示数据,显示译码驱动电路将二进制表示的计数结果转换成相应的能够在七段数码显示管上可以显示的十进制结果。在数码显示管上可以看到计数结果。
  
  3  设计实现
  3.1 系统方框图的划分和结构设计
  根据数字频率计的系统原理框图(图1虚线框内),设计系统的顶层电路图如图2所示。

 


  
  
  图2中TESTCTL为测频控制信号发生器。TESTCTL的计数使能信号TSTEN能产生一个1s宽的周期信号,并对频率计的每一计数器CNT10的ENA使能端进行同步控制:当TSTEN高电平时允许计数、低电平时停止计数。
  REG32B为锁存器。在信号Load的上升沿时,立即对模块的输入口的数据锁存到REG32B的内部,并由REG32B的输出端输出,然后,七段译码器可以译码输出。在这里使用了锁存器,好处是可以稳定显示数据,不会由于周期性的清零信号而不断闪烁。
  CNT10为十进制计数器。有一时钟使能输入端ENA,用于锁定计数值。当高电平时允许计数,低电平时禁止计数。图2中将8个十进制计数器CNT10级联起来实现8b十进制计数功能。
  SEVYM为七段译码显示驱动电路,可以将频率计数的结果译成能在数码管上显示相对应的阿拉伯数字,便于读取测量的结果。
  为了实现系统功能,测频控制信号发生器TESTCTL、计数器CNT10、锁存器REG32B存在一个工作时序的问题,设计时需要综合考虑。
  图3给出了系统的工作时序。图3中CLK是由图1中脉冲发生器产生的频率为1Hz的标准时钟信号,当测频控制信号发生器TESTCTL的TSTEN端为高电平时允许计数、低电平时停止计数,在停止计数期间,测频控制信号发生器TESTCTL的Load端产生一个上升沿,将计数器在前1s的计数值锁存进32b锁存器REG32B中,并由8个7段译码器将计数结果译出稳定显示。锁存信号之后经过半个CLK周期,测频控制信号发生器TESTCTL的CLR_CNT端产生一个上升沿,对计数器进行清零。为下1s的计数操作做准备。
  为了产生这个时序图,首先有一个D触发器构成二分频器,在每次时钟CLK的上升沿到来使其值翻转。D触发器的输出高电平正好是1s,因此可以作为测频控制信号发生器TESTCTL的TSTEN端,用来控制计数。而Load信号正好是TSTEN端信号的翻转。在计数结束后半个CLK周期,CLK与TSTEN都为低电平,这时CLR_CNT产生一个上升沿作为清零信号。
  
  
  

来源:现代电子技术

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