试将与电压反馈光耦串接的电阻R6(330欧)串联47欧电阻，以减小Q1的基极电流，进而降低其对Q2的分流能力，使电源的带载能力有所增强。上电试机，无论加载或启动操作，+5V均稳定输出5V，故障排除(此故障排除是采取了权宜之计，应急修复的措施，并未查出和更换故障元件，对故障进行根治)!

　　故障推断：1、开关管Q2有老化现象，放大能力下降，Ic值偏低，开关变压器储能变小，而使电源带载能力变差;2、分流支路有特性偏移现象，使分流过大，开关管得不到良好驱动，从而使电源带载能力差。第一种原因可能性大。

　　附记：以后该台变频器又因模块损坏故障送修，手头有QM5HLL-24管子，故换掉开关管Q2，将串接47Ω电阻解除，恢复原电路后，开关电源工作正常。说明该机器开关电源电路带载能力差的故障原因，确系Q2开关管低效所致。

　　[故障实例4]一台多年使用的变频器，在逆变模块损坏并修复后，为变频上电，测CPU板+5V供电，约为6V，测控制回路的+15V供水，高达近20V。输出电压明显偏高，但输出电压值较为稳定。怀疑是万用表测量误差(如数字万用表内部9V电源能量不足造成的测量误差)，换用另一块万用表检测，还是如此。

　　说明开关电源存在故障，未敢给CPU主板供电，摘下电源/驱动板，单独检修，为保险起见，出切断了驱动IC的四路供电，等输出电压值正常后再连接负载电路。

　　该例故障，输出电压尚能稳定，说明稳压电路还是起作用的，稳压环节还是“透气”的。试将TL431基准电路的VREF端子的上分压电阻减小，或想办法加大反馈光耦的输入侧电流，检测各路输出电压略有下降，也说明稳压环节还是能对输出电压作出反应和起了调节作用的。但感觉电压的下降量极小，电路能对输出电压作出反应，但反应的灵敏度降低。把稳压环节看成一个误差放大器的话，是这个放大器的放大倍数明显不够了啊。

　　该电路也是由两只分立晶体管构成的振荡和稳压电路，稳压的所有控制，最后都落实到开关管基极电流的控制上，一是开关管的驱动电流过大，二是分流管的Ic电流过小，对开关管Ib电流的分流能力不足。

　　挑选一只放大倍数高的分流管对原管进行代换，又检查了稳压电路的所有环节，未查出变值和不良元件，单独拆下TL431，作了稳压性能试验，没有问题。检修陷入了僵局。

　　将电路板放置了几天，没有管它，但脑子里有时还在转悠着这个事。将疑点放在了光电耦合器PC817的身上!TL431与PC817相配合，将输出电压的变化隔离和反馈至一次振荡电路。PC817内含发光二极管一只和光敏三极管一只，长期工作后，发光二极管的发光效率变低，光敏三极管受光量减小，导通内阻变大，相当于误差放大器的放大信倍变低了。另外，也不排除光敏三极管老化、低效、放大倍数降低等等的可能，二者中的其一不良，便导致稳压控制能力减弱，输出电压升高。但光耦器件的在线测量，只能测出输入侧发光二极管的正反向电阻或电压降，其它指标则无能为力。

　　将光耦拆除，换用一只优质元件，开机，测各路输出电路，哗!全部正常和稳定了!

　　可以总结一点：电解电容因工艺和材质的特点，性能容易渐变和低效，但这种电容的渐变和低效，还是容易引起注意的。其它元件，电阻一般是较为稳压的。 那么还容易渐变和低效的原件，应该首属晶体管了。早期的电子电路维修工作者，针对性的分立元件的晶体管，维修工作中对管子放大倍数的检测，成为常规手段之一。以后，随着IC电路的出现，随着IC工作可靠性的提高，往往忽略了对IC内容晶体管的渐变和低效的问题。PC817也可以称之为IC电路，内部集成了发光管和三极管，其它被广泛应用的模拟IC和数字IC，内部内部也是由晶体管所集成，总会有晶体管渐变和低效的可能。在长期的维修中，我也碰到数例这种情况。这种情况，单纯测试IC的引脚电阻，很难察觉到什么异常。而上电进行动态电压检测，往往有效。

　　遇有疑难故障，多注意晶体管的渐变和低效，注意IC内部晶体管的渐变、低效、失效!

　　四、渐变、低效元件难于检测的原因和检测方法的问题：

　　此类渐变和低效元件的难于检测，主要由两个原因造成：

　　1、检测工具的局限。

　　最常用检测工具为数字和指针式万用表，高电压和大电流，不能由万用表提供，对有些器件，如直流回路的储能电容电级引线电阻的出现，须在高电压和大电流的状态下进行检测，才能得出结论。电容表和万用表确实对此无能为力。

　　2、检测方法的问题。检测元器件，往往进行单一性的检测，如仅仅检测元件引脚电阻，或仅仅检测在线电压;或习惯用一只表检测其好坏。

　　应该拓展检测手段和检测方法。如对逆变模块和高耐压元件的检测，可利用耐压测试仪或借用绝缘摇表，对元件进行电压击穿测试。

　　如检测光耦器件，可从线路板上拆下，用一只指针式万用表的x10k挡测试输入侧正向电阻(同时提供正向导通电流)，用一只万用表，同时测试输出侧三极管的导通电阻，将测试结果与好的同型号光耦器件相对照，则不难检测出低效元件。或者干脆用外加电源，为光耦送入输入10mA电流，对比测试其输出电阻，则更易得出正确的判断。